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美國(guó)ASI J200激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS)

參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):

品       牌:美國(guó)Applied Spectra

廠商性質(zhì):代理商

所  在  地:北京市

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更新時(shí)間:2024-10-24 16:57:43瀏覽次數(shù):7502次

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應(yīng)用領(lǐng)域 化工,地礦,能源,航天
美國(guó)ASI J200激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS)是一種用于化學(xué)多元素定性和定量分析的原子發(fā)射光譜,廣泛應(yīng)用于刑偵、材料、地礦、考古、能源、環(huán)境、生態(tài)、農(nóng)業(yè)等對(duì)各領(lǐng)域。可用于固態(tài),液態(tài),氣態(tài)等樣品的檢測(cè)分析。

一、簡(jiǎn)介

Russo博士于2004年創(chuàng)建了美國(guó)應(yīng)用光譜(Applied Spectra,ASI)公司, ASI公司是一家專門研究激光剝蝕及光譜分析技術(shù)的高科技公司,研發(fā)人員均為美國(guó)勞倫斯伯克利國(guó)家實(shí)驗(yàn)室(Lawrence Berkeley National Laboratory)的科研人員。美國(guó)勞倫斯伯克利國(guó)家實(shí)驗(yàn)室具有80多年LIBS技術(shù)的研究經(jīng)驗(yàn),致力于激光誘導(dǎo)等離子體光譜和剝蝕技術(shù)在化學(xué)分析領(lǐng)域的應(yīng)用和開發(fā)。

 

美國(guó)ASI J200激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS)是一種用于化學(xué)多元素定性和定量分析的原子發(fā)射光譜,廣泛應(yīng)用于刑偵、材料、地礦、考古、能源、環(huán)境、生態(tài)、農(nóng)業(yè)等對(duì)各領(lǐng)域。可用于固態(tài),液態(tài),氣態(tài)等樣品的檢測(cè)分析。

 

二、美國(guó)ASI J200激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS)技術(shù)優(yōu)勢(shì)

  • Q開關(guān),短脈沖Nd:YAG激光器,擁有各種不同波長(zhǎng)、不同能量的飛秒或納秒激光器,可根據(jù)您的實(shí)際應(yīng)用需求進(jìn)行選購(gòu)
  • 創(chuàng)新的模塊化系統(tǒng)為獨(dú)立的LA,LIBS,或LA – LIBS復(fù)合系統(tǒng)的配置設(shè)計(jì)
  • 滿足不同分析要求的三種LIBS檢測(cè)器選項(xiàng),LIBS可配置雙檢測(cè)器
  • 系統(tǒng)傳感器,確保激光剝蝕一致性
    • 高度自動(dòng)調(diào)整技術(shù)
    • 激光能量穩(wěn)定快門
  • 雙攝像機(jī),一個(gè)于高倍成像,另一個(gè)用于樣品表面的廣角觀察
  • 應(yīng)用光譜Flex樣品室?guī)в锌苫Q鑲嵌模塊,以優(yōu)化運(yùn)輸氣體流量和顆粒沖刷性能
  • 緊湊型微集氣管設(shè)計(jì),以消除脫氣和記憶效應(yīng)
  • 雙路高精度數(shù)字質(zhì)量流量控制器和電子控制閥門
  • 系統(tǒng)軟件
    • 硬件部件的全面控制與測(cè)量自動(dòng)化
    • 多功能取樣方法:全分析、微區(qū)&夾雜物分析,深度分析和元素成像
    • 用于LIBS和LA-ICP-MS分析的強(qiáng)大數(shù)據(jù)分析模塊
    • 用于判別和分類分析的LIBS化學(xué)計(jì)量軟件
  • 維護(hù)成本低
  • 升級(jí)為L(zhǎng)A-LIBS復(fù)合系統(tǒng)簡(jiǎn)單
  • 可升級(jí)為飛秒激光剝蝕

 

三、硬件特點(diǎn)

針對(duì)雙重LA/LIBS性能而設(shè)計(jì)的緊湊、模塊化系統(tǒng)

主體包括激光源、激光束傳輸光學(xué)器件、Flex樣品室、氣體流量控制系統(tǒng)以及LIBS檢測(cè)器。

 

自動(dòng)調(diào)整樣品高度,保證激光剝蝕的一致性

考慮到樣品表面的形態(tài)變化,采用自動(dòng)調(diào)高傳感器。可保持精確的激光聚焦,在所有采樣點(diǎn)上提供相同的激光能量,并在所有采樣點(diǎn)上實(shí)現(xiàn)一致的激光剝蝕。

 

具有可互換鑲嵌模塊的Flex樣品室,以優(yōu)化氣流和微粒沖洗性能

根據(jù)測(cè)量目的(主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度分析、元素成像等),有必要對(duì)樣品室的各個(gè)性能指標(biāo)進(jìn)行優(yōu)化,指標(biāo)包括:沖洗時(shí)間、顆粒混合、樣品室內(nèi)的流動(dòng)特性。Flex樣品室的設(shè)計(jì)能夠容納直徑為4英寸的樣品,使用一組可互換的頂部和底部鑲嵌塊來調(diào)節(jié)氣流條件(層流和紊流)和微粒沖洗時(shí)間。此外,F(xiàn)lex樣品室的設(shè)計(jì)是為等離子體光提供一個(gè)好的視角,從而保證在激光剝蝕過程中進(jìn)行靈敏的LIBS檢測(cè)。

 

創(chuàng)新集氣管設(shè)計(jì)

采用先進(jìn)的集氣管設(shè)計(jì),大限度地減少了脫氣,防止了任何燒蝕顆粒的堆積,并消除記憶效應(yīng)。容易組裝,便于定期清潔輸氣管道。

 

高精度氣體流量控制系統(tǒng)

氣體控制系統(tǒng)使用兩個(gè)高精度、數(shù)字化質(zhì)量流量控制器(MFC)和電子控制閥,用于氬氣、氦氣及補(bǔ)充氣體的輸送,并精確控制氣流,防止等離子體火焰熄滅。預(yù)設(shè)配置可以選擇輸送氬氣、氦氣或補(bǔ)充氣體。

氣體流量控制系統(tǒng)

 

通過雙攝像頭和先進(jìn)照明實(shí)現(xiàn)樣品可視化

擁有先進(jìn)照明系統(tǒng)和高倍光學(xué)變焦(高達(dá)60X)功能,清晰呈現(xiàn)樣品的表面細(xì)節(jié)。配備雙高分辨率CMOS成像攝像機(jī),提供廣角視野和高倍成像,以精確地研究精細(xì)區(qū)域(見下圖)。廣角視野視圖可以保存,并用于定位不同的樣品位置,使用高倍鏡研究樣品。

 

具有三種獨(dú)立的照明模式,提高圖像質(zhì)量和對(duì)比度:擴(kuò)散式LED光源,透射光和同軸反射光,光的強(qiáng)度和顏色可控。

清晰、高倍放大的樣品表面圖像

 

同軸光線不同顏色和強(qiáng)度下的樣本圖像對(duì)比

 

三種LIBS檢測(cè)器可選,擴(kuò)展了儀器功能

三種不同LIBS檢測(cè)器可選:(1)帶有ICCD攝像機(jī)的掃描Czerny Turner光譜儀;(2) 配備ICCD攝像機(jī)的中階梯光柵光譜儀;(3)同步六通道CCD光譜儀。做為獨(dú)立的LIBS儀器系統(tǒng),可同時(shí)配備任意兩種檢測(cè)器。雙檢測(cè)器開辟了新的LIBS檢測(cè)功能。

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